CyberOptics stellt neue MRS-fähige AOI-, SPI- und CMM-Lösungen auf der productronica Germany vor

Systeme beinhalten die erstklassige proprietäre MRS (Multi-Reflection Suppression)-Sensortechnologie

Die CyberOptics® Corporation (NASDAQ: CYBE), ein führender globaler Entwickler und Hersteller von hochpräzisen 3D-Sensortechnologiel�sungen, wird das SQ3000™-DD 3D Automated Optical Inspection (AOI)-System mit den neuen MRS (Multiple-Reflection Suppression)-Sensoren mit ultrahoher Aufl�sung in Halle A4, Stand 239 auf der productronica 2017 zeigen, die vom 14. bis 17. November 2017 auf der Messe München in Deutschland stattfinden wird. Das Unternehmen wird außerdem die neuen Systeme SE3000™ 3D SPI und SQ3000™ 3D CMM vorstellen, die beide mit der MRS-Technologie ausgestattet sind.

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: http://www.businesswire.com/news/home/20171018005558/de/

CyberOptics SQ3000-DD AOI System (Photo: Business Wire)

Das neue SQ3000-DD 3D AOI Dual Lane-, Dual Sensor-System maximiert die Flexibilität, was eine Anpassung an variierende PCB-Breiten erm�glicht. Dieses einzigartige Design bietet die Fähigkeit, großvolumige Baugruppen zu inspizieren, den Vorteil, verschiedene Baugruppen und Platinengr�ßen gleichzeitig auf verschiedenen Spuren zu inspizieren und auch die M�glichkeit, vom Doppelspur- in den Einspurmodus zu wechseln, um sehr große Platinen zu inspizieren.

Das SQ3000-DD bietet nicht nur die PCB-Inspektionsflexibilität, sondern auch die Flexibilität, zwei gleiche oder zwei unterschiedliche proprietäre MRS-Sensoren zu wählen, die beide Mehrfachspiegelungen akribisch identifizieren und abstoßen, die von glänzenden Komponenten und reflektierenden L�tstellen verursacht werden.

Die neue MRS-Sensoroption mit ultrahoher Aufl�sung bietet eine noch feinere Aufl�sung als der Standard. Sie liefert eine überragende Inspektionsleistung, die ideal für 0201-Metrik- und Mikroelektronikanwendungen geeignet ist, wo ein noch h�heres Maß an Genauigkeit und Inspektionszuverlässigkeit entscheidend ist. Die einmalige Architektur beider MRS-Sensoroptionen erfasst und überträgt gleichzeitig mehrere Bilder nebeneinander, während hochentwickelte 3D-Fusionsalgorithmen die Bilder zusammenfügen und dabei mikroskopische Bildqualität in Produktionsgeschwindigkeit bieten.

Das neue SE3000™ SPI-System ist das allererste SPI-System, das die branchenführende MRS-Sensortechnologie mit einer feineren Aufl�sung für beste Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit enthält – selbst auf den kleinsten Pastenablagerungen. Kombiniert mit der preisgekr�nten, benutzerfreundlichen Software hat die L�tpasteninspektion ein neues Präzisionsniveau für die strengsten Anforderungen erreicht.

„Wir haben unsere MRS-Sensortechnologie in mehrere Plattformen für AOI, SPI und CMM eingebaut“, sagte Dr. Subodh Kulkarni, President und CEO, CyberOptics. „Wir geben unseren Kunden die beste Kombination aus Genauigkeit, Geschwindigkeit und Benutzerfreundlichkeit zur Maximierung ihres Ertrags und ihrer Produktivität.“

Das neue SQ3000 3D CMM (Coordinate Measurement)-System, das von der MRS (Multi-Reflection Suppression)-Technologie angetrieben wird, nutzt CyberCMM™, ein neues umfassendes Softwarepaket für Koordinatenmessungen. In einer Labor- oder Produktionsumgebung arbeitet das MRS-fähige SQ3000 CMM-System extrem schnell und hochpräzise, mit wiederholbaren und reproduzierbaren Messungen für Metrologieanwendungen in der Herstellung einer Vielfalt von Produkten, wie z. B. PCBs, Halbleiter und Verbraucherelektronik.

CyberCMM™, eine umfangreiche Suite von CMM-Tools, bietet 100 Prozent Messungen von Metrologiequalität an allen kritischen Punkten viel schneller als eine traditionelle CMM, einschließlich Koplanarität, Distanz, H�he und Datum X, Y, um nur ein paar zu nennen. Im Vergleich zu einer langwierigen, technischen Einrichtung, die viele Ressourcen beansprucht und typischerweise mehrere Anpassungen mit traditionellen CMMs verlangt, kann eine schnelle und einfache Einrichtung durchgeführt werden.

Weitere Informationen finden Sie unter www.cyberoptics.com.

Über CyberOptics

Die CyberOptics Corporation (NASDAQ: CYBE) ist ein führender globaler Entwickler und Hersteller hochpräziser Sensortechnologiel�sungen. Sensoren von CyberOptics werden auf den Märkten für allgemeine Metrologie und 3D-Scanning, Oberflächenmontagetechnik (Surface Mount Technology, SMT) und Halbleiter genutzt – und sorgen so für deutlich h�here Erträge und mehr Produktivität. Dank seiner ultramodernen Technologien hat sich CyberOptics als ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich hochpräziser 3D-Sensoren etabliert und ist strategisch positioniert, um seine wichtigen vertikalen Märkte noch stärker zu durchdringen. CyberOptics hat seinen Hauptsitz in Minneapolis im US-Bundesstaat Minnesota und unterhält weltweit Betriebe in Nordamerika, Asien und Europa.

Angaben in Bezug auf die voraussichtliche Leistung des Unternehmens sind zukunftsgerichtete Aussagen und unterliegen daher gewissen Risiken und Ungewissheiten, unter anderem: Marktbedingungen in der weltweiten SMT- und Halbleiter-Investitionsgüterindustrie, die zeitliche Abfolge von Bestellungen und Versendungen unserer Produkte, insbesondere unserer 3D MRS-befähigten AOI-Systeme, steigender Preiswettbewerb und Preisdruck auf unseren Produktabsatz, insbesondere bei unseren SMT-Systemen, dem Auftragseingang von unseren Originalausrüster-Kunden, der Verfügbarkeit von Teilen, die zur Auslieferung von Aufträgen erforderlich sind, unvorhergesehene Schwierigkeiten in der Produktentwicklung, die Auswirkung globaler Ereignisse auf unseren Umsatz, insbesondere im Zusammenhang mit ausländischen Kunden, rapide Technologieänderungen auf dem Elektronikmarkt, Produkteinführungen und Preise der Mitbewerber, der Erfolg unserer 3D-Technologie-Initiativen, der Erfolg des CyberGage360 sowie andere Faktoren, die in den bei der US-B�rsenaufsicht Securities and Exchange Commission (SEC) eingereichten Unterlagen des Unternehmens dargestellt werden.

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CyberOpticsCarla Furanna, +1 952 820 5837cfuranna@cyberoptics.com

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